• Àüü
  • ÀüÀÚ/Àü±â
  • Åë½Å
  • ÄÄÇ»ÅÍ
´Ý±â

»çÀÌÆ®¸Ê

Loading..

Please wait....

Ȩ Ȩ > ¿¬±¸¹®Çå >

Current Result Document :

ÇѱÛÁ¦¸ñ(Korean Title) »õ·Î¿î ¼Ò½ºÄÚµåÀÇ À̹ÌÁö º¯È¯ ±â¹ý ±â¹Ý ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î °áÇÔ ¿¹Ãø
¿µ¹®Á¦¸ñ(English Title) Software Defect Prediction with new Image Conversion Technique of Source Code
ÀúÀÚ(Author) À̼±±¸   ±èűՠ  ·ù´ö»ê   ¹éÁ¾¹®   Sungu Lee   Tae-Kyun Kim   Duksan Ryu   Jongmoon Baik  
¿ø¹®¼ö·Ïó(Citation) VOL 48 NO. 02 PP. 0239 ~ 0241 (2021. 12)
Çѱ۳»¿ë
(Korean Abstract)
¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î °áÇÔ ¿¹Ãø (SDP)Àº °áÇÔÀÌ ÀÖ´Â ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î ¸ðµâÀ» ½Äº°ÇÏ¿© ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î Ç°Áúº¸Áõ È°µ¿¿¡ ÇÊ¿äÇÑ ÀÚ¿øÀ» °áÇÔÀÌ ÀÖ´Â ¸ðµâ¿¡ È¿°úÀûÀ¸·Î ÇÒ´çÇÏ´Â °ÍÀ» ¸ñÇ¥·Î ÇÑ´Ù. ÃÖ±Ù ¼Ò½ºÄڵ带 À̹ÌÁö·Î º¯È¯ÇÏ¿© °áÇÔÀ» ¿¹ÃøÇÏ´Â ¿¬±¸°¡ Á¦¾ÈµÇ¾úÀ¸¸ç ±âÁ¸ÀÇ ¹æ¹ýº¸´Ù ¿ì¼öÇÑ ¿¹Ãø ¼º´ÉÀ» º¸¿´´Ù. º» ³í¹®ÀÇ ¸ñÇ¥´Â ¼Ò½ºÄÚµåÀÇ ´Ù¾çÇÑ À̹ÌÁö º¯È¯ °úÁ¤À» ÅëÇØ ¿¹Ãø ¼º´ÉÀ» °³¼±ÇÒ ¼ö ÀÖ´ÂÁö È®ÀÎÇÏ´Â °ÍÀÌ´Ù. À̸¦ À§ÇØ ¼Ò½ºÄÚµå ³»ÀÇ Å°¿öµå, °ø¹é, Áٹٲ޹®ÀÚ¸¦ ºÐ·ùÇØ À̹ÌÁö·Î º¯È¯ÇÏ´Â °úÁ¤À» ÅëÇØ ¼º´ÉÀÇ º¯È­¸¦ ½ÇÇèÇÑ´Ù. ½ÇÇè °á°ú ¼Ò½ºÄÚµå ³» ¿©·¯ ±¸¹®À» ºÐ·ùÇؼ­ À̹ÌÁö·Î º¯È¯ÇÏ´Â °ÍÀÌ ´õ ³ôÀº ¼º´ÉÀ» º¸Àδٴ °ÍÀ» È®ÀÎÇÒ ¼ö ÀÖ¾ú´Ù. µû¶ó¼­ ÄÄÇ»ÅÍ ºñÀü ±â¼úÀÌ ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î Ç°Áúº¸Áõ È°µ¿À» ºñ¿ë È¿°úÀûÀ¸·Î ¼öÇàµÇµµ·Ï ±â¿©ÇÒ °ÍÀ¸·Î ±â´ëµÈ´Ù.
¿µ¹®³»¿ë
(English Abstract)
Å°¿öµå(Keyword)
ÆÄÀÏ÷ºÎ PDF ´Ù¿î·Îµå